2． 3　记忆效应

在分析过程中， 样品会与进样毛细管、 泵管、雾化器、 雾室和中心炬管有接触， 形成一定的残留，尤其在测定 Hg，As，B 等元素或高浓度样品时，ICP–OES 的记忆效应对样品测定有干扰。首先要避免高浓度样品进样测定， 其次可以延长清洗时间，用特定的清洗液清洗， 完成后用空白溶液进行测试以确定清洗是否干净。

2． 4　电离干扰

易电离元素是指碱金属或碱土金属等电离能较低， 易电离的元素。由于 ICP 中试样是在通道里进行蒸发、 离解、 电离和激发， 试样成分的变化对于高频趋肤效应的电学参数影响很小， 因而易电离元素的加入对离子线和原子线强度影响比其它光源都要小， 但实验表明这种易电离干扰效应仍对光谱分析有一定的影响。

当样品溶液中含有Li，Na等易电离元素时， 它们大量电离使其它元素的电离受到干扰或抑制， 使得原子谱线增强， 离子谱线减弱。这种干扰可以通过在空白、 标准和样品中加入相同浓度电离抑制剂， 使得它们具有相同的电离条件， 但该校正方法过程繁琐且成本较高， 一般在实际操作过程中较少使用。避免电离干扰可以通过 ICP–OES双向观测中的径向观测， 优化观测位置获得很好的信号补偿。同时还可以通过调整 ICP 焰炬高度、 分析谱线或减少载气流量和增加仪器功率削弱电离干扰。

2． 5　光谱干扰

光谱干扰是由于干扰信号与分析物信号分辨不开所引起的， 是多种干扰因素共同作用的结果， 主要因素包括谱线拖尾的叠加；光谱线的自吸和自蚀；均匀或非均匀的杂散光背景， 噪声， 谱线漂移等。由于 ICP 的激发能力很强， 几乎每一种存在于 ICP 中或引入 ICP 中的物质都会发射出丰富的谱线， 从而产生大量的光谱 “干扰” 。

光谱干扰主要分为两类：一类是谱线重叠干扰， 其原因是光谱仪色散率和分辨率不足， 使某些共存元素谱线重叠而干扰分析；另一类是背景干扰， 这类干扰与基体成分及 ICP 光源本身所发射强烈杂散光的影响有关。谱线重叠分为部分重叠和完全重叠两种情况。当测量样品溶液中 P 含量时， 通常情况下容易受到Cu 等元素谱线部分重叠干扰， 如图 3 所示。

多谱线拟合 (MSF) 校正方法是一种矩阵计算，它将谱线叠加进行逆运算， 分解出叠加之前每个分量的数据。高浓度Cu对测定样品中P有较强的干扰因素， 但是用 MSF 校正后能够很好地解决该问题， 校正结果如表 1 所示。

如图 4 所示， 在分析Zn元素时， 它产生的干扰谱线几乎和W 元素完全重叠在一起。

当测定只含有Zn元素样品时， 能够测出少量的 W 元素， 此时可以通过元素间校正 (IEC) 去除干扰， 结果如表 2 所示。

单边校正或双边校正都是对谱线的背景校正，以便求出谱峰的净峰面积。MSF 和 IEC 都是谱线干扰的校正方法， IEC 适用于分析谱峰和干扰谱峰完全重叠的情况， 在光谱分析中较少见。部分重叠使得谱峰变形用 MSF 效果较好， 在计算元素间校正系数时， 单标溶液需给出准确的浓度， 而多谱线拟合校正只需给出谱峰的形状， 对浓度大小没有要求。

3.　结语

在 ICP–OES 进行样品分析过程中， 遇到干扰问题时应判断它属于哪种类型干扰， 然后选择消除干扰的方法。同时还要掌握仪器工作原理， 懂得仪器的维护和保养。要准确地分析数据， 除了校正干扰问题外， 还需对整个分析过程进行质控管理， 通过采取空白样品、 仪器精密度和准确度、 加标回收、 盲样测试等措施进行质量控制。

来源：化学分析计量网

作者：杨开放

( 镇江市环境监测中心站， 江苏镇江　212009)